薄板应力功率谱密度仿真与实验验证

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薄板应力功率谱密度仿真与实验验证

祁喜全, 郭辉, 王岩松, 刘宁宁

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祁喜全, 郭辉, 王岩松, 刘宁宁. 薄板应力功率谱密度仿真与实验验证[J]. 上海工程技术大学学报, 2018, 32(1): 20-24. doi: 10.3969/j.issn.1009-444X.2018.01.005

引用本文:

祁喜全, 郭辉, 王岩松, 刘宁宁. 薄板应力功率谱密度仿真与实验验证[J]. 上海工程技术大学学报, 2018, 32(1): 20-24. doi: 10.3969/j.issn.1009-444X.2018.01.005

QI Xiquan, GUO Hui, WANG Yansong, LIU Ningning. Simulation and Experimental Verification of Stress Power Spectral Density for Thin Plate[J]. Journal of Shanghai University of Engineering Science, 2018, 32(1): 20-24. doi: 10.3969/j.issn.1009-444X.2018.01.005

Citation:

QI Xiquan, GUO Hui, WANG Yansong, LIU Ningning. Simulation and Experimental Verification of Stress Power Spectral Density for Thin Plate[J]. Journal of Shanghai University of Engineering Science, 2018, 32(1): 20-24. doi: 10.3969/j.issn.1009-444X.2018.01.005

祁喜全, 郭辉, 王岩松, 刘宁宁. 薄板应力功率谱密度仿真与实验验证[J]. 上海工程技术大学学报, 2018, 32(1): 20-24. doi: 10.3969/j.issn.1009-444X.2018.01.005

引用本文:

祁喜全, 郭辉, 王岩松, 刘宁宁. 薄板应力功率谱密度仿真与实验验证[J]. 上海工程技术大学学报, 2018, 32(1): 20-24. doi: 10.3969/j.issn.1009-444X.2018.01.005

QI Xiquan, GUO Hui, WANG Yansong, LIU Ningning. Simulation and Experimental Verification of Stress Power Spectral Density for Thin Plate[J]. Journal of Shanghai University of Engineering Science, 2018, 32(1): 20-24. doi: 10.3969/j.issn.1009-444X.2018.01.005

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QI Xiquan, GUO Hui, WANG Yansong, LIU Ningning. Simulation and Experimental Verification of Stress Power Spectral Density for Thin Plate[J]. Journal of Shanghai University of Engineering Science, 2018, 32(1): 20-24. doi: 10.3969/j.issn.1009-444X.2018.01.005

薄板应力功率谱密度仿真与实验验证

doi: 10.3969/j.issn.1009-444X.2018.01.005

上海工程技术大学汽车工程学院,上海,201620

中图分类号: TH114
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出版历程
- 刊出日期: 2018-03-30

Simulation and Experimental Verification of Stress Power Spectral Density for Thin Plate

摘要: 为避免出现因时域信号过长而无法加载的情况,可将时域信号转化为功率谱密度,在频域下研究振动载荷下的疲劳特性.采用传递函数方法对疲劳失效部位进行精准定位,进而获得该位置处的应力功率谱密度,并进行实验验证.研究表明,根据传递函数方法可以精确获得危险部位处的应力功率谱密度,为频城内疲劳寿命预测的研究提供理论基础和载荷数据支撑.
- 振动载荷 /
- 传递函数 /
- 应力功率谱密度

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